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TWE 透射波前差測試機
TWE測量儀器使用雙光路測量模式，具備高精度、高動態范圍和大像差直接測量能力，可快速切換光路類型，對各類光學元件（如透鏡、濾光片、平面玻璃等）的透射波前質量進行精確表征與質量控制。
準直光穿過被測光學元件后，其理想的平面波前會因元件內部及表面的不均勻性而產生畸變。TWE測量機將這種波前畸變轉換為可檢測的光強分布圖像，通過專用算法實時重建出完整的波前相位圖，從而精確量化出波前誤差的PV值、RMS值、PSF、MTF等關鍵參數。
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10nm RMS絕對精度
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20nm臺間差PV小于
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＜2 nm RMS測試分辨率（相位）
vs
加入對比
- 臺式TWE測試儀
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產品優勢
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產品應用
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產品參數
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應用解決方案
產品優勢
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高精度波前測量
支持10nm RMS解析度，精準捕捉光學元件的波前信息與成像質量
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多功能測試平臺
兼容平面與透鏡類產品，支持快速更換Holder設計，適配不同規格產品測量需求
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非接觸式快速檢測
采用高穩定性光學系統，采集速度快，結果重復性高
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定制化波長與輸出
支持多波段切換測試，并一鍵輸出定制報告圖表
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集成緊湊高效
模塊化設計節省空間，搭配可視化軟件界面，操作更直觀高效
產品應用
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平面玻璃測量 -
鏡頭測試 -
透鏡測試
產品參數
系列型號
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臺式TWE測試儀
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波長范圍
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孔徑尺寸
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空間分辨率
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相位分辨率
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臺間差
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絕對精度
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采集速度
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實時處理速度
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電路規格
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外觀尺寸
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重量
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通訊接口
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氣壓
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溫度
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濕度
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潔凈度
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臺式TWE測試儀
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波長范圍400 ~ 1100 nm
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孔徑尺寸5.02 mm × 3.75 mm
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空間分辨率27.6 μm（依擴束鏡而定）
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相位分辨率<2 nm RMS（依擴束鏡而定）
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臺間差PV: 15-20 nm；RMS: 0-4 nm
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絕對精度10 nm RMS
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采集速度60 FPS
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實時處理速度10 FPS（全分辨率）
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電路規格電源：AC 220 V，50 Hz
功率：100 W
額定電流：0.5 A（Max 1A） -
外觀尺寸430 mm × 430 mm × 884.5 mm
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重量55 kg
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通訊接口以太網口，USB 3.0
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氣壓0.5-0.7 Mpa，Φ10 mm
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溫度15-35°C
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濕度40 ~ 65%
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潔凈度100/1000/10000 級
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