臺式TWE測試儀
采用四波剪切傳感器測量光學波前，可用于評估當不同波長單色光通過時光學元件的性能（如PV、RMS、MTF、像差、球差等結果）。
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400-1100nm波長范圍
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5.02×3.75mm孔徑尺寸
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＜2 nm RMS測試分辨率（相位）
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產品優勢
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產品參數
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應用解決方案
產品優勢
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高精度波前測量
支持10nm RMS解析度，精準捕捉光學元件的波前信息與成像質量
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多功能測試平臺
兼容平面與透鏡類產品，支持快速更換Holder設計，適配不同規格產品測量需求
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非接觸式快速檢測
采用高穩定性光學系統，采集速度快，結果重復性高
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定制化波長與輸出
支持多波段切換測試，并一鍵輸出定制報告圖表
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集成緊湊高效
模塊化設計節省空間，搭配可視化軟件界面，操作更直觀高效
產品參數
系列型號
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臺式TWE測試儀
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波長范圍
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尺寸
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孔徑尺寸
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相位空間分辨率
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分辨率（相位）
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精度（絕對）
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采集頻率
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實時處理頻率
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接口
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重量
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上/下料模式
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精密運動控制
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電源
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氣源
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功率
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額定電流
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外觀尺寸
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重量
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臺式TWE測試儀
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波長范圍400-1100 nm
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尺寸62 mm×64 mm×94 mm
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孔徑尺寸5.02 mm×3.75 mm
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相位空間分辨率27.6 μm-77.28 μm（依擴束鏡而定）
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分辨率（相位）＜4 nm RMS
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精度（絕對）10 nm RMS
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采集頻率60 fps
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實時處理頻率10 fps（全分辨率）
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接口千兆網
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重量~400 g
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上/下料模式手動上下料
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精密運動控制手動滑臺 快速替換Holder系統
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電源AC 220 V，50 Hz
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氣源無
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功率100 W
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額定電流0.5 A（MAX 1A）
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外觀尺寸430 mm×430 mm×884.5 mm
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重量55 kg
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